FTIR Microscope Extension Module for Mid-/Long-Wave Infrared
| 参数项目 | 技术指标 |
|---|---|
| 工作波段 | 由配套 FTIR 光谱仪决定 适用于中波红外（MWIR）及长波红外（LWIR）波段 |
| 光谱分辨率 | 由配套 FTIR 光谱仪决定 |
| 光学结构 | 全反射式（Reflective Optics） |
| 色差特性 | 天然消色差 — 反射式结构无色散，全波段成像一致 |
| 光路设计 | 精密设计 + 精确对准，最大化能量耦合效率 |
| 测试信号强度 | ±1.1 count 同型号光谱仪 + 美国显微模块：±0.05 count |
| 测量模式 | 反射 / 透射（显微模式） |
| 兼容性 | 可适配主流品牌 FTIR 光谱仪主机 |
| 产品类型 | FTIR 显微扩展模块（定制化附件） |
| 对比项目 | 美国显微模块 | 森普力显微扩展模块 |
|---|---|---|
| 测试信号强度 | ±0.05 count | ±1.1 count |
| 信号倍数 | 基准（1×） | 22 倍 |
| 光学结构 | 反射式 | 全反射式 |
| 色差校正 | 消色差 | 天然消色差 |
同型号中长波傅立叶光谱仪，相同测试方法和目标：美国人做的显微模块测试样品信号强度仅 ±0.05 count，我们做的显微扩展模块信号强度达 ±1.1 count，提升达 22 倍。 更高的信号强度意味着更好的信噪比（SNR），从而在相同积分时间下获得更高质量的光谱数据，或在相同信噪比要求下大幅缩短采集时间，显著提高测量效率。
森普力显微扩展模块 — 实测信号强度 ±1.1 count
美国显微模块 — 实测信号强度 ±0.05 count
采用全反射镜光学系统，不使用任何透射元件，从根本上消除色差问题，确保从中波到长波红外全波段的一致成像性能。
反射式光学无色散效应，无需复杂的消色差透镜组合。不同波长的光线经过相同的反射路径，焦距和焦点位置完全一致。
光路经过详细的光学仿真设计与精确的机械对准，最大程度减少能量损耗和杂散光，实现极高的能量耦合效率。
同型号光谱仪、相同测试方法和目标：美国显微模块仅 ±0.05 count，我们的显微扩展模块达 ±1.1 count，信号提升 22 倍。
模块化设计，可适配主流品牌（Bruker、Thermo Fisher、Agilent 等）的 FTIR 光谱仪主机，无需对主机进行改装。
更高的信号强度直接带来更优的信噪比（SNR），可在更短积分时间内获取高质量光谱，提高分析效率。
利用反射物镜对样品微区进行红外反射光谱采集，适用于不透明材料、涂层表面、薄膜等样品的分子结构分析。
对红外透明或半透明薄片样品进行透射光谱采集，获取材料内部化学键振动信息和分子指纹特征。
配合电动平台逐点扫描，生成样品微区的红外光谱化学图像，实现分子级别的空间分布可视化分析。
可选配 ATR（衰减全反射）物镜，实现表面接触式光谱采集，特别适合高吸收样品和表面薄层分析。
中长波红外是矿物鉴定的黄金波段，矿物中硅酸盐、碳酸盐、硫酸盐等基团的基频振动吸收峰集中在此区域，显微 FTIR 可实现微区矿物的精确识别。
在中长波红外（2.5 ~ 25 μm）波段，常规透射式光学材料（如 ZnSe、Ge、KBr 等）存在以下局限：
1. 色差问题 — 透射材料的折射率随波长变化（色散），不同波长的焦点位置不同，导致宽波段成像模糊，需要复杂的消色差透镜组合。
2. 材料吸收 — 红外透射材料自身在部分波段存在吸收，降低系统透过率和信号强度。
3. 材料限制 — 长波红外可用的透射材料种类有限且昂贵（如 ZnSe、Ge），且部分材料存在潮解或毒性问题。
全反射式结构（使用反射镜代替透镜）从根本上避免了上述问题：反射镜对所有波长的反射角度相同，天然消色差；高反射率金属镀膜（如镀金）在整个中长波红外波段的反射率 >98%，能量损耗极小。这就是本模块采用全反射式设计的核心原因。
我们可根据您的 FTIR 主机型号、波段需求和应用场景，提供定制化的显微扩展解决方案。