Name: 瞬态光电流测试（Transient Photocurrent, TPC）系统
Brand: 四川森普力科技有限公司
Availability: InStock

瞬态光电流测试（Transient Photocurrent, TPC）系统

Transient Photocurrent / QE 定量 / 开关高速响应 / 线性动态范围 LDR

本系统为光电探测器量子效率（QE）与开关高速响应特性一体化测试平台。提供完整的瞬态光电流测试（Transient Photocurrent, TPC）测试服务与系统方案，同步获得入射光功率与光生电流，直接计算 QE(λ)，并评估器件光电响应特性及线性动态范围（LDR）。采用 254nm LED、光纤耦合与内置标定光功率计，最高 100kHz 方波调制，配合示波器采集响应波形。

光功率 P_opt 与光电流 I_ph 同步测量，直接计算 QE(λ)
评估器件光电响应特性及线性动态范围（LDR）
254nm 深紫外 LED，聚焦透镜 + 光纤耦合照射
最高 100kHz 方波调制，开关高速响应分析
输出 QE(λ)、Δt、τ_r、τ_f、LDR、调制深度
显微观察 · 双探针接触，支持芯片级器件直接测试

实测平台

显微观察 · 双探针接触 · 光路耦合 · 信号同步采集，支持芯片级器件直接测试

系统组成与光路流程

图 1　TPC 系统组成框图（虚线为光路，实线为电信号 / 数据路径）

主要技术参数

光源波长	254nm 深紫外 LED
调制频率	0～100kHz 连续可调，方波驱动
光耦合方式	聚焦透镜 + 光纤传输
光功率监测	内置标定光功率计，与光电流同步采集
被测对象	MOS 管等光电导通型 / 光电探测器件
信号采集	高速示波器，同步捕获驱动与响应波形
输出参数	QE(λ)、Δt、τ_r、τ_f、LDR、调制深度

应用方向

TPC / 量子效率定量测试线性动态范围（LDR）深紫外光电探测器件开关高速响应测试器件研发验证与选型生产端质量管控

测试流程与原理

测试流程

高速开关电路以最高 100kHz 对 254nm LED 进行方波调制；
出射光经透镜与光纤耦合，聚焦照射被测器件电极；
光功率计与光电流通道同步记录功率–电流对应关系；
示波器采集通断波形，提取 Δt、τ_r、τ_f 等响应参数；
依据 P_opt 与 I_ph 计算量子效率 QE(λ)，并评估光电响应特性及 LDR。

时序测试原理

LED 以 100kHz、占空比 50% 方波驱动；器件响应相对驱动信号存在延迟，边沿呈有限上升 / 下降过程。通过示波器同步采集，可提取响应延迟 Δt、上升时间 τ_r、下降时间 τ_f，评估开关高速响应与频率响应能力。

图 2　LED 驱动波形与器件响应波形对比（100kHz 调制）

量子效率与 LDR 评估

光功率–光电流同步测量 → 计算 QE(λ) / 评估 LDR

内置标定光功率计与光电流通道同步工作，获得入射光功率 P_opt 与光生电流 I_ph，按下式计算：

QE(λ) = ( I_ph / e ) ÷ ( P_opt / hν )

同一光路平台可同时完成 QE 定量测试、开关高速响应分析，以及线性动态范围（LDR）评估。

核心能力

TPC / 量子效率定量 — 同步获得入射光功率与光生电流，直接计算 QE(λ)，适用于光电探测器研发验证与选型评估。

开关高速响应 — 同步提取响应延迟、上升 / 下降时间与调制深度，评估频率响应能力。

线性动态范围（LDR） — 评估器件光电响应特性及线性动态范围，支撑器件性能完整表征。

芯片级直接测试 — 显微观察与双探针接触，支持 MOS 管等光电导通型 / 光电探测器件。

瞬态光电流测试（Transient Photocurrent, TPC）系统