超景深显微成像系统

高速超景深扫描 · 2D/3D 精密测量 · 长工作距离与手持检测 · 智能缺陷成像

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50×~300× 变倍
宽倍率连续变倍,从宏观概览到微细结构观察,一机覆盖多场景检测需求
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2D/3D 测量
长度、角度、面积、圆心距等 2D 量测,以及轮廓、点高、体积等 3D 分析功能
高速超景深
主镜头全自动高速扫描不停留;手持镜头无移动部件亦可实现超景深成像
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智能缺陷检测
全自动样品扫描,自动定位缺陷并触发超景深成像,可选神经网络自升级检测
超景深显微成像系统 - 螺丝样品超景深成像

超景深显微成像系统

500 万像素高速相机 / 多模式 LED 照明 / 主镜头 + 长工作距离 + 手持镜头

本超景深显微成像系统系我司自行研发设计,全部软硬件自主可控,可按客户要求增加/删改功能,面向工业质检与科研表征,集成超景深合成算法、精密变倍光路与智能测量软件, 可在 50×~300× 放大倍率下获得全焦段清晰图像。配备长工作距离镜头与手持式检测镜头, 分别适用于深腔工件与柱形内腔的现场检测。系统支持自动标定与自动/手动对焦, 配合环形、同轴、分区等多模式高亮度 LED 照明,满足金属、塑料、电子元器件等多材质样品的稳定成像。 可选配边扫描边对焦、成像+光谱同轴光路及膜厚测试模块,实现形貌、光谱与膜厚的原位一体化检测。

  • 500 万像素相机,帧率 >50 FPS
  • 连续变倍 50×~300×,最优分辨率达 5 μm 以内
  • 长工作距离镜头 50×~150×,工作距离 ≥80 mm
  • 手持镜头可检测内径 200 mm 以上柱形内腔
  • 2D 几何测量 + 3D 轨廓/点高/体积量测
  • 全自动扫描与缺陷超景深成像
  • 软件实时显示 GPU/CPU 占用率,支持 GPU 加速
  • 可选 Linux 平台与 AI 缺陷检测

系统展示

主要技术参数

成像相机500 万像素,帧率 >50 FPS
放大倍率50×~300× 连续可变
空间分辨率最优分辨率达 5 μm 以内
长工作距离镜头50×~150×,最大工作距离 ≥80 mm
手持式镜头50×~150× 连续变倍,适用于内径 200 mm 以上柱形工件内腔检测
2D 测量长度、角度、面积、圆心距等基础几何量测
3D 测量3D 轨廓剖面、单点高度、三维体积量测
对焦与标定自动标定;自动/手动对焦
照明系统高亮度 LED,色温可调,使用寿命 >20 000 小时
照明模式环形照明、同轴照明、分区照明
软件功能2D/3D 精密测量、自动标定与对焦、超景深合成与拼接、缺陷自动定位、GPU/CPU 占用率实时显示

应用领域

电子元器件质检 精密机械零件检测 深腔工件内表面检查 柱形内腔型面检测 表面缺陷自动筛查 3D 形貌与尺寸计量 镀膜表面原位检测 材料科学研究

功能特性详解

智能检测与扫描

全自动样品扫描 — 按设定区域自动完成大面积图像采集与拼接,高效获取样品全域信息,适合批量质检与工艺监控。
缺陷智能定位 — 自动识别疑似缺陷区域并触发超景深成像,在复杂背景下仍可获得缺陷部位的清晰全焦段图像。
边扫描边对焦(可选) — 扫描过程中实时调节焦面,适应厚度变化或起伏明显的样品,提升大面积扫描效率与成像一致性。
成像+光谱同轴(可选) — 同轴光路集成光谱检测模块,在同一视场内同步获取形貌图像与光谱信息,减少重复定位误差。
膜厚原位检测(可选) — 选配膜厚测试功能,在观察表面形貌的同时原位测量膜层厚度,实现形貌与膜厚的一体化表征。
多模式照明 — 环形、同轴与分区照明灵活切换,配合可调色温 LED,适配高反光、透明及纹理复杂等不同表面特性。

软件与扩展

2D/3D 精密测量 — 支持长度、角度、面积、圆心距等 2D 量测,以及轮廓剖面、单点高度、三维体积等 3D 分析,测量结果可导出报告。
超景深合成与拼接 — 多焦面图像自动采集、景深融合与大面积图像拼接,一键生成全焦段清晰的全景图。
GPU/CPU 占用率显示 — 软件界面实时显示 GPU 与 CPU 占用率,便于监控超景深合成与 3D 重建等计算任务的负载状态,辅助产线节拍调优。
自动标定与对焦 — 内置自动标定流程,支持自动/手动对焦切换,保障测量精度与成像一致性。
主镜头高速超景深扫描 — 主镜头支持全自动高速 Z 轴运动,扫描全程无中间停留,快速完成多焦面采集与景深合成,大幅缩短检测周期。
手持镜头无移动部件超景深 — 手持式检测镜头无需机械位移即可实现超景深成像,便于狭窄空间与现场灵活操作,降低设备磨损与维护成本。
GPU 加速(可选) — 选配 GPU 计算主机,加速超景深合成与 3D 重建运算,满足产线节拍与大批量数据处理需求。
Linux 平台(可选) — 支持 Linux 操作系统部署,便于与工业自动化产线、嵌入式系统及定制化软件环境集成。
AI 缺陷检测自升级(可选) — 基于神经网络扩展的缺陷检测模块,可持续学习新缺陷类型并在线升级,随产线工艺演进不断提升检出能力。
长工作距离与内腔检测 — 长工作距离镜头适用于深腔、不宜贴近的样品;手持镜头可深入大内径柱形工件,完成内腔型面的超景深检测。

可选扩展

根据检测对象与产线需求,灵活选配扫描策略、光谱模块、膜厚功能及计算平台,支持 OEM 定制与现场安装调试。

边扫描边对焦 成像+光谱同轴 膜厚原位检测 GPU 加速主机 Linux 平台 AI 缺陷检测 手持检测镜头 长工作距离镜头

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联系姚经理,我们将根据您的样品类型、检测精度与产线需求推荐合适配置。

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