可变角绝对透/反射率可变角测试系统 SPL-X90
绝对角定位 / 双光束积分球 / 精度 ≤0.5% / 0.3~50 mm 样品
本系统为可变角度的绝对透、反射率检测系统。主体采用显微镜架构观察，双光束分为参考光与样品光，从同一光源出射， 使用积分球收光、APD 雪崩单点探测器检测信号。发光臂可旋转 180°，样品台可 0°~360° 连续旋转， 支持绝对反射率、透射率、散射及膜层传输率多种测试模式。系统已在中国工程物理研究院等单位成功交付，实测精度在 0.5% 以内。
- 双光束架构（参考光 + 样品光），同源出射，消除光源波动
- 测试精度 ≤0.5%
- 发光臂 0°~180° 旋转，样品台 0°~360° 旋转
- 绝对角编码器，分辨率 0.088°，开机即显示角度
- 积分球内径 ≥50 mm，APD 雪崩探测器
- 2000 万像素显微观察 + 可见指示光定位
- 支持线偏振分析，保留圆偏振扩展接口
主要规格参数
| 光源波长 | 980 nm 窄带光源，主动制冷，稳定性 ≤0.2% |
|---|---|
| 测试精度 | ≤0.5%（本结果可与中测院测试结果对标） |
| 发光臂旋转 | 0°~180°（反射 / 透射 / 散射模式） |
| 样品台旋转 | 0°~360° 连续旋转 |
| 角度定位 | 绝对角编码器，分辨率 212 ≈ 0.088° |
| 手动旋转精度 | ≤1° |
| 电控旋转精度 | ≤0.1°（可选升级） |
| 适配样品尺寸 | 0.3 mm ~ 50 mm（含多规格夹具） |
|---|---|
| 积分球 | 内径 ≥50 mm，400~1000 nm，平均反射率 >94% |
| 探测器 | APD 雪崩单点探测器，靶面 >1 mm |
| 显微观察 | 2000 万像素相机，工作距离 ≥49 mm，可见指示光 |
| 偏振分析 | 线偏振，手动精度 1°（电动可达 0.1°） |
| 连续工作时间 | >8 小时 |
| 整体稳定性 | ≤0.5% |
可检测样品类型
| 样品类型 | 适用情况 | 备注 |
|---|---|---|
| 平面镜 2~6 mm | 可测试 | — |
| 平面镜 ≥6 mm | 可测试 | — |
| 球面透镜 2~6 mm | 可测试中心焦点处参数 | 需根据焦点设计光路配件 |
| 棱镜 | 根据外形而定 | 需定制专用夹具 |
| 体光栅 | 根据外形而定 | 需定制专用夹具 |
| 光学薄膜 | 透射膜 / 反射膜 / 偏振分光膜 | 膜层传输率检测 |